介質(zhì)損耗測試

JSY系列介質(zhì)損耗測試儀是一種測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強(qiáng)、測試時間（在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度快）等特點(diǎn)。體積小、重量輕是我公司的第二代抗干擾介損測試儀。
主要技術(shù)指標(biāo)
     1、環(huán)境溫度：0 ～ 40℃（液晶屏應(yīng)避免長時日照）        
     2、相對濕度：30% ～ 70%
     3、供電電源：電壓：220V±10%、頻率：50±1Hz
     4、外形尺寸：長×寬×高   500mm×300mm×400mm
     5、重量：    約18Kg          
     6、輸出功率：0.6KVA
     7、顯示分辯率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
     8、測量范圍及輸出電壓選擇：
                介質(zhì)損耗（tgδ）：±0.00～±999%
                試品電容容量（Cx）和加載電壓：
                2.5KV檔:≤300nF（300000pF）            3KV檔:≤200nF（200000pF）
                5KV檔:≤76nF（76000pF）                7.5KV檔:≤34nF（34000pF）
                10KV檔:≤20nF（20000pF）
     9、基本測量誤差：
                介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個字（加載電流20uA～500mA）
                介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個字（加載電流5uA～20uA）
                電容容量（Cx）：1.5%±1.5pF介質(zhì)損耗測試儀

我們提供的產(chǎn)品包括變頻串聯(lián)諧振試驗裝置、繼電保護(hù)測試儀、大電流發(fā)生器、試驗變壓器、互感器測試儀、電纜故障測試儀、超低頻發(fā)生器、高壓開關(guān)測試儀等測試儀器。本公司堅持“以人為本 科技創(chuàng)新"為導(dǎo)向，竭誠為客戶提供更好的檢測方案！